隨著社會(huì)越來越發(fā)達(dá)，大家都選擇在網(wǎng)絡(luò)上汲取相關(guān)知識(shí)內(nèi)容，比如粒度分布圖怎么分析(粒度分布圖如何分析)，為了更好的解答大家的問題，小編也是翻閱整理了相應(yīng)內(nèi)容，下面就一起來看一下吧！

【資料圖】

1、粒度分析方法

粒度分析方法視碎屑巖顆粒大小和巖石致密程度而異。

1.礫巖的粒度分析方法

礫巖的粒度分析主要在野外進(jìn)行，一般采用篩析和直接測量兩種方法。對(duì)膠結(jié)不太堅(jiān)固的礫石和疏松的礫石層，先用孔徑為10 mm和1 mm的篩子過篩，小于1 mm的基質(zhì)和膠結(jié)物，可帶回室內(nèi)進(jìn)行再細(xì)分；10～1 mm的細(xì)礫部分若是含量多且差異大者，要用篩析方法進(jìn)行細(xì)分；10 mm以上的礫石，一般在野外用尺子直接測量，然后將各粒級(jí)的礫石分別稱重，記錄于粒度分析表中。采樣過程中應(yīng)選擇有代表性的取樣地點(diǎn)，而且樣品質(zhì)量不少于25～30 kg，否則誤差就會(huì)相當(dāng)大。對(duì)于膠結(jié)堅(jiān)固的礫巖，可在風(fēng)化帶上進(jìn)行粒度測量；或采標(biāo)本回室內(nèi)，先進(jìn)行膠結(jié)處理，將礫石分開，再進(jìn)行粒度測量。

2.砂巖和粉砂巖的粒度分析方法

砂巖和粉砂巖的粒度分析常采用篩析法、沉速法和薄片法，常用的沉速法有阿茲尼法、沙巴寧法和羅賓遜法等。篩析法和沉速法適用于未固結(jié)的疏松巖石，如粗碎屑巖一般只用篩析法；而中—細(xì)粒碎屑巖由于常常含有較多的粉砂和黏土，常將沉速法與篩析法結(jié)合使用。薄片法主要用于固結(jié)堅(jiān)硬的巖石。一般來說，篩析法適用于大于0.25 mm的顆粒，亦可用于大于0.1 mm的顆粒，而沉速法適用于小于0.25 mm的顆粒。

3.顆粒粒級(jí)的劃分

一般采用伍登-溫德華標(biāo)準(zhǔn)，它是以毫米為單位的一種分類方案，后來克魯賓（1934）提出了一種對(duì)數(shù)換算（表3-1），稱其為Φ值：

沉積學(xué)原理

其中，D為顆粒直徑。

表3-1 粒級(jí)劃分標(biāo)準(zhǔn)對(duì)比表

4.薄片粒度分析

篩析法只適用于現(xiàn)代沉積的沙和古代固結(jié)疏松的砂巖，對(duì)不能松解的砂巖不再適用。固結(jié)的巖石，特別是硅質(zhì)膠結(jié)巖石的粒度分析，只能在薄片內(nèi)進(jìn)行。薄片粒度分析的精度較篩析法差，因薄片內(nèi)計(jì)算的顆粒比篩析的量少得多，同時(shí)分析速度慢，分析結(jié)果不能與篩析法直接對(duì)比。下面簡單介紹一下薄片粒度分析的方法，薄片的制備與普通巖石薄片的制備方法相同，疏松的砂巖用膠浸煮后磨片。用作粒度分析的薄片要稍大些（3.0 cm×2.0 cm），尤其是粗粒砂巖，以便在薄片內(nèi)可測量到足夠的顆粒數(shù)。用作磨制薄片的標(biāo)本，必須在所采集的巖層內(nèi)是有代表性的。

（1）在薄片上測定粒度的方法

在薄片上采用什么方法選擇欲測量的顆粒稱為抽樣方法，一般常用的系統(tǒng)抽樣方法為點(diǎn)計(jì)法和線計(jì)法，此外，還有一種方法為帶記法。

點(diǎn)計(jì)法 常用有網(wǎng)格的目鏡進(jìn)行測量，每一方格的邊長應(yīng)大于薄片中顆粒的最大視直徑，應(yīng)用機(jī)械臺(tái)使薄片通過顯微鏡視域，測量網(wǎng)格結(jié)點(diǎn)所觸遇的顆粒粒徑（圖3-1）。

線計(jì)法 用機(jī)械臺(tái)在垂直目鏡微尺的方向移動(dòng)薄片，凡為十字絲豎絲觸遇的顆粒都要測量。量完一行，平行橫絲將薄片移動(dòng)一定距離，再按上述方法測量，一直測到足夠的顆粒為止。測線間隔要大于薄片內(nèi)顆粒的最大視直徑（圖3-2）。

不同抽樣方法所得出的結(jié)果不同，線計(jì)法測量時(shí)，與測線相交的顆粒的概率與測線垂直方向上的顆粒直

圖3-1 薄片粒度分析的點(diǎn)計(jì)法

徑成比例；點(diǎn)計(jì)法測量時(shí)，與點(diǎn)相遇的顆粒的概率與顆粒的可見表面積成比例。

帶計(jì)法 將薄片放在機(jī)械臺(tái)上，固定橫坐標(biāo)，使薄片垂直目鏡微尺慢慢移動(dòng)，凡是顆粒中心在目鏡微尺一定讀數(shù)之間的顆粒，都要按大小分類計(jì)數(shù)（圖3-3）。這個(gè)帶的寬度應(yīng)等于或大于樣品內(nèi)顆粒的最大視直徑。有人通過實(shí)驗(yàn)證明，帶計(jì)法測得的結(jié)果最近似于樣品內(nèi)真正的粒度分布。

圖3-2 薄片粒度分析的線計(jì)法

圖3-3 薄片粒度分析的帶計(jì)法

由于不同抽樣方法所得的結(jié)果不能直接對(duì)比，因而不同的樣品要用統(tǒng)計(jì)方法比較的話，必須在每個(gè)細(xì)節(jié)上使用同樣的抽樣方法和測定方法。最后，將測得結(jié)果填入薄片粒度統(tǒng)計(jì)表（表3-2）。

表3-2 薄片粒度統(tǒng)計(jì)表

（2）各種測定直徑的對(duì)比與換算

用粒度資料解釋沉積環(huán)境的工作開始于對(duì)現(xiàn)代沉積物的研究。對(duì)于古代巖石的沉積環(huán)境分析，也可借助于巖石粒度分析同現(xiàn)代沉積物粒度分析加以比較。

現(xiàn)代沉積物的粒度分析一般采用常規(guī)篩析法，所得結(jié)果為不同粒度的顆粒質(zhì)量百分比。而古代巖石目前大部分只能用薄片分析法，所得結(jié)果為不同粒度的顆粒數(shù)百分比。兩者不能直接對(duì)比，如果需要對(duì)比則必須進(jìn)行換算。即使在同一方法中，也只能進(jìn)行統(tǒng)計(jì)對(duì)比，絕不能進(jìn)行單顆粒對(duì)比。

篩析直徑與沉速分析直徑之間，平均值偏差＜0.1Φ，兩種方法一般不經(jīng)換算可以互相使用，但在精確研究工作中則必須換算。薄片分析視直徑與篩析直徑之間的偏差可達(dá)到0.25Φ或更大，在任何情況下均不可互用或直接對(duì)比。將視直徑換算為篩析直徑的方法很多，其中G.M.Friedman通過統(tǒng)計(jì)分析進(jìn)行的線性回歸換算較為簡便、準(zhǔn)確，任意粒度的回歸換算方程為

沉積學(xué)原理

式中：D是換算后的篩析直徑；d是薄片中測定的視長直徑，均以Φ值計(jì)。經(jīng)換算后，換算值同實(shí)際篩析值的平均直徑最大偏差一般不超過0.25Φ，這個(gè)精度高于0.25Φ分組間隔，可滿足一般沉積學(xué)研究。

對(duì)于切片視直徑與真直徑的對(duì)比，根據(jù)實(shí)驗(yàn)可知，等直徑的球狀集合體的切面上所測得的視直徑平均值為真直徑的0.765倍，即在顆粒集合體的切片中，顆粒視直徑平均值小于真直徑，這種現(xiàn)象稱為切片效應(yīng)。

（3）薄片粒度測量的要求

粒度測量是粒度分析的基礎(chǔ)，故對(duì)其測量要求很高，而測量工作卻非常煩瑣、效率很低。薄片粒度分析是研究固結(jié)樣品的唯一方法，可使用偏光顯微鏡和掃描電子顯微鏡。近年來出現(xiàn)的圖像分析儀使薄片粒度分析基本實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化，效率大為提高。薄片統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)為顆粒數(shù)。

在沉積環(huán)境研究中使用薄片粒度分析時(shí)，對(duì)巖石樣品的基本要求是：砂巖中石英碎屑含量應(yīng)大于70%，至少石英和長石含量要大于70%，溶蝕交代與次生加大現(xiàn)象越弱越好，切片方向可垂直層面或平行層面，隨研究目的和要求的精度而定。在碳酸鹽巖研究中，取樣密度可達(dá)1 點(diǎn)/cm，可平行紋層切片。測定時(shí)一般采用線計(jì)法抽取顆粒，凡在線上的顆粒都要測量，不能有任何主觀取舍，每個(gè)薄片計(jì)200～500顆粒即可，碳酸鹽巖需測1000顆粒以上。

在薄片內(nèi)，需要測定多少顆粒才能代表全薄片的粒度分布，這在開始分析之前必須確定。測定的顆粒太少，不能代表薄片內(nèi)的粒度分布；測定的顆粒太多，又會(huì)浪費(fèi)時(shí)間，而且對(duì)精確度無所增益。根據(jù)砂巖樣品的實(shí)驗(yàn)，分別測量100、200、300、400、500顆粒，繪制粒度累積頻率曲線，從計(jì)數(shù)400顆粒起，粒度累積曲線的形狀基本保持不變，因而可確定薄片內(nèi)計(jì)數(shù)400～500顆粒是達(dá)到精度要求的最小計(jì)數(shù)。

薄片分析視直徑換算成篩析直徑時(shí)，還要考慮“雜基”的存在。薄片分析若不做雜基校正，往往無懸浮總體尾端，而是跳躍總體直接穿過3～4Φ的截點(diǎn)呈直線延伸，不出現(xiàn)轉(zhuǎn)折，在平均值小于2Φ的中細(xì)砂巖、粉砂巖中經(jīng)常出現(xiàn)這種情況，這是因?yàn)?～7Φ的顆粒細(xì)小，被測機(jī)會(huì)增多，或者全被歸并到4.5Φ或5Φ的顆粒而造成細(xì)粒數(shù)增加，實(shí)質(zhì)上是一種統(tǒng)計(jì)截尾效應(yīng)（截尾點(diǎn)不同，其分布也不同）（圖3-4）。

圖3-4 截尾效應(yīng)

雜基校正的方法是將顯微鏡調(diào)至6Φ后測定或估計(jì)出雜基含量。薄片雜基量由于切片效應(yīng)和成巖后生作用，值一般偏高，取其2/3～1/2為校正值，假定為Δ，將各累積頻率乘以（100—Δ），重新繪一曲線。對(duì)于弱固結(jié)巖石，可用同一標(biāo)本既做篩析，又做薄片分析，通過實(shí)驗(yàn)求出校正系數(shù)（100—Δ）的數(shù)值。

2、粒度分析的作圖

粒度分析的結(jié)果，可按表6-3所示的格式整理，然后作出直方圖、頻率曲線圖、累積曲線圖和概率累積曲線圖（圖6-5，圖6-6）。圖的橫坐標(biāo)表示顆粒大小，縱坐標(biāo)表示百分?jǐn)?shù)或累積百分?jǐn)?shù)。直方圖是廣泛使用的一種粒度分布的圖解形式，以并排高低不同的矩形表示各粒級(jí)百分比。如果把每個(gè)矩形頂連點(diǎn)連接成一平滑曲線，即成頻率曲線圖?？梢砸荒苛巳坏乇硎境隽＜?jí)分布的范圍和各粒級(jí)的百分比以及百分比最高和最低的粒級(jí)所在位置。缺點(diǎn)是如果粒度數(shù)據(jù)很多時(shí)，很難對(duì)比。

表6-3 粒度分析資料統(tǒng)計(jì)表

累積曲線是粒度分析必做的最簡單的基礎(chǔ)圖。從累積曲線分布的粒級(jí)范圍和曲線的陡緩，可對(duì)沉積物的粒級(jí)分布范圍、粒度粗細(xì)和分選好壞等主要的粒度特征得到直觀的感性認(rèn)識(shí)；不同沉積物的累積曲線可繪在一張圖上，便于互相對(duì)比；可以直接從曲線上讀出一些參數(shù)，并識(shí)別出沉積條件。因此，它是粒度分析中應(yīng)用很廣泛的方法。

圖6-5 由直方圖所作的頻率曲線

圖6-6 三種常見的粒度曲線

用正態(tài)概率紙（圖6-7）所作的概率累積曲線圖，從直觀看，概率坐標(biāo)不是等間距的，中央部分百分比之間的間距小，上下始末兩端百分比之間的間距大。其變化規(guī)律是以中央50%處為對(duì)稱中心點(diǎn)，向上下兩端相對(duì)應(yīng)地逐漸加大，因而使沉積物的粗細(xì)尾端百分含量較小的部分得以放大，使原來在半對(duì)數(shù)紙上的“S”形累積曲線的始末兩端曲線拉長而成為一直線。所以在正態(tài)概率紙上，表示粒度分布的累積百分比圖形是由幾段相交的直線段組成。不同性質(zhì)沉積物，線段的數(shù)目、交切點(diǎn)和斜度等性質(zhì)均有不同，便于直觀地比較沉積物之間的差別和辨別沉積環(huán)境，也可以直接從圖上識(shí)別不同的搬運(yùn)與沉積作用。同時(shí)，由于概率累積曲線的粗細(xì)尾端變化明顯，便于求出φ5、φ16、φ84、φ95的分位數(shù)值，利用圖算法計(jì)算出各種參數(shù)。

3、納米二氧化鈦的粒度分布圖和分布表怎么分析??？

主要看D50，該顆粒群的粒度為1.144μm，即1144納米。超過200納米，所以談不上納米級(jí)材料。從圖看，該顆粒群中，顆粒大多數(shù)為0.85μm左右。其它分析，不是一兩句話能說清楚的。

4、粒度分布圖數(shù)值怎樣分析

粒徑分布表是不同粒徑在總粒徑中的含量。分異是指該粒徑所占的百分比，堆積是指以前所有粒徑含量的總和。

通過減去兩個(gè)累積值（或加上該范圍內(nèi)的所有差分值）可以得到該范圍內(nèi)粒度的百分比。從表中可以看出，440微米以下的顆粒含量占100%。

粒度分布圖是表的可視化。水平軸為粒徑（類似于直徑尺寸等），縱軸為含量比例，最大為100%。體重藍(lán)線為各粒徑的比例，紅色為各粒徑比例的整數(shù)值。

藍(lán)線的峰值表示粒徑為23微米至400微米的顆粒含量，而最大含量的顆粒則集中在100微米；而紅線則表示一定粒徑之前所有顆粒含量的總和。可見，350微米以下的顆粒占100%。

擴(kuò)展資料：

粒度特性有兩個(gè)關(guān)鍵指標(biāo)，介紹如下：

①D50：試樣的累積粒徑分布百分率達(dá)到50%時(shí)對(duì)應(yīng)的粒徑。其物理意義是粒徑大于50%的顆粒占50%，粒徑小于50%的顆粒占50%。D50也稱為中值或中值粒徑。D50通常用來表示粉末的平均粒徑。

②D97：試樣累積粒徑分布達(dá)到97%時(shí)對(duì)應(yīng)的粒徑。其物理意義是粒徑小于對(duì)應(yīng)的顆粒占97%。D97通常用來表示粉末粗末的粒徑指數(shù)。其他參數(shù)，如D16和D90，其定義和物理意義與D97相似。

參考資料來源：

百度百科--粒度分布

5、粒度分布圖怎么分析

粒度分布圖是一個(gè)正態(tài)分布曲線,橫坐標(biāo)是粒徑,縱坐標(biāo)是粒子百分比對(duì)粒徑的一階導(dǎo)數(shù).對(duì)曲線作定積分,就可以算出相應(yīng)的D值.比如D90就是百之九十的粒子的最大粒徑.一般的工作站都能設(shè)定D值自行計(jì)算的.

關(guān)鍵詞： 粒度分布